1 名稱 1000L冷熱沖擊試驗箱
2 主要技術(shù)參數(shù)
2.1 測試環(huán)境條件 環(huán)境溫度為 23℃±3℃、相對濕度 35％～65％RH、試驗箱在“模擬負載”條
件下。
2.2 設備型號 ASR-GH2CJ-1000FW
2.3 設備名稱 水平兩溫區(qū)高低溫沖擊試驗箱
2.4 標稱內(nèi)容積 1000 L
2.5 提籃尺寸 W1000mm×D1000mm×H1000mm
2.6 外形尺寸（參考， 具體以設計為準） W4155mm×D2120mm×H2100mm（參考，以實際設計為準） 備注：尺寸不包括凸出部分（如把手、控制器等）。
2.7 試驗方式 對開門水平移動兩箱提籃式。
2.8 溫度沖擊范圍及精度 沖擊范圍：
-60℃～+150℃（高溫 60℃～+180℃，低溫-70℃～-10℃） 精度：
溫度波動度±0.3℃
溫度偏差±1.6℃ 溫度均勻度≤1.6℃
2.9 高溫區(qū) 溫度曝露范圍 +60℃～+150℃
預熱溫度上限 180℃
升溫速率 R.T.→＋180℃<40min（單獨運行時性能） 2.10 低溫區(qū) 溫度曝露范圍 -60℃～-10℃ 預冷溫度下限 -70℃ 降溫速率 R.T.→-70℃<60min（單獨運行時性能） 2.11 試驗區(qū)（提籃） 高溫曝露溫度范 圍 +60℃～+150℃ 低溫曝露溫度范 圍 -60℃～-10℃ 溫度波動度 ≤ ±0.3℃ 溫度偏差 ±1.6℃ 2.12 曝露（駐留）時間 30min 2.13 提籃轉(zhuǎn)換時間 ≤10s 2.14 溫度恢復時間 ≤5min (a. 在帶載 30kg 鋁錠或等效塑封 IC、電路板)時，高溫 80℃暴露，低溫- 40℃暴露，暴露時間均為 30min； (b. 在帶載 30kg 鋼鐵或等效塑封IC、電路板)時，高溫 150℃暴露 30min， 低溫- 60℃暴露均為 30min。 2.15 穩(wěn)定時間 設備中心點溫度達到指定溫度后，再到達穩(wěn)定條件（可實現(xiàn)計量和驗收條 件）的時間需小于 30 分鐘。 2.16 運行方式 (1)通過控制器需可選擇運行方式：溫度沖擊試驗、溫度浸泡試驗；溫度浸泡試驗指的是：沖擊箱可以當做獨立的低溫箱或者高溫箱來使用 （通過讓吊籃切換周期變長實現(xiàn)）； (2)沖擊起始選擇：可以自由選擇沖擊試驗的起始點從高溫區(qū)開始或者從低溫區(qū)開始；