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HAST試驗(yàn)箱越來(lái)越普遍的原因是什么？
近年來(lái)，隨著技術(shù)的進(jìn)步，元器件的可靠性越來(lái)越高，一些傳統(tǒng)的測(cè)試方法已經(jīng)無(wú)法適應(yīng)。例如，常用的IC溫度/濕度/偏置電壓(THB)測(cè)試(85C/85%RH加偏置電壓)需要數(shù)千小時(shí)才能獲得近封裝質(zhì)量水平的有用結(jié)果。此外，隨著越來(lái)越多的塑料微電路和COTS產(chǎn)品被應(yīng)用于高可靠的軍事裝備，也需要提高測(cè)試和篩選技術(shù)以降風(fēng)險(xiǎn)。
美國(guó)國(guó)防部宣布采用民間標(biāo)準(zhǔn)SSB-1《塑封微電路和半導(dǎo)體在軍事、航空和其他嚴(yán)格控制的應(yīng)用中的使用指南》，規(guī)定了半導(dǎo)體企業(yè)用于識(shí)別新的或改進(jìn)產(chǎn)品的常用可靠性試驗(yàn)，包括表面貼裝器件的預(yù)處理、偏置壽命試驗(yàn)、溫度循環(huán)、高壓蒸煮、THB和高加速應(yīng)力試驗(yàn)(HAST)等。
在這些測(cè)試中，艾斯瑞儀器的HAST測(cè)試箱是專門為塑封固態(tài)器件設(shè)計(jì)的，因?yàn)橐呀?jīng)證明高壓蒸煮和THB測(cè)試已經(jīng)不能讓一些健壯的塑封微電路失效。在該實(shí)驗(yàn)中，采用高溫(通常為130℃)、高相對(duì)濕度(約85%)和高大氣壓力(高達(dá)3 atm)來(lái)加速水分穿過(guò)芯片引線周圍的外部保護(hù)材料或密封封裝。當(dāng)水分到達(dá)基底表面時(shí)，勢(shì)能會(huì)將裝置變成電解池，從而加速腐蝕失效機(jī)制。該測(cè)試中加速的失效機(jī)制包括金屬化腐蝕、材料界面處的分層、引線鍵合失效、絕緣電阻降等。這個(gè)和THB差不多，但是HAST加速更快。有些器件廠商通過(guò)對(duì)比確定某一批次的失效是由相同的失效模式引起的，然后對(duì)該批次使用HAST代替THB，再根據(jù)HAST測(cè)試結(jié)果用加速因子推導(dǎo)出等效的THB失效結(jié)果。
對(duì)于加速試驗(yàn)，過(guò)去主要使用單一應(yīng)力和恒定應(yīng)力剖面。但是，在新的加速試驗(yàn)中，應(yīng)力剖面不需要恒定，也可以使用應(yīng)力組合。常見(jiàn)的不穩(wěn)定應(yīng)力剖面和組合應(yīng)力剖面包括步進(jìn)應(yīng)力剖面試驗(yàn)、漸進(jìn)應(yīng)力剖面試驗(yàn)、高加速壽命試驗(yàn)(HALT)、高加速應(yīng)力篩選(HASS)和HAST。HALT、HASS和HAST是相對(duì)較新的測(cè)試方法。HALT是一個(gè)開發(fā)測(cè)試，也是一個(gè)增強(qiáng)的逐步壓力測(cè)試。一般用于發(fā)現(xiàn)設(shè)計(jì)中的弱點(diǎn)和生產(chǎn)過(guò)程中的問(wèn)題，目的是提高設(shè)計(jì)的強(qiáng)度裕度，而不是預(yù)測(cè)產(chǎn)品的定量壽命或可靠性。HASS是一種加速環(huán)境壓力篩選方法。它提供了產(chǎn)品遇到的惡劣的環(huán)境，花費(fèi)的時(shí)間有限。HASS的目的是實(shí)現(xiàn)“技術(shù)的基本限”，即應(yīng)力的微小增加會(huì)大大增加失效的應(yīng)力水平。HALT和HASS的聯(lián)合使用旨在改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)，大限度地減少生產(chǎn)變化和環(huán)境效應(yīng)對(duì)性能和可靠性的影響。
HAST
用于評(píng)估IC器件、金屬材料等的可靠性。在潮濕環(huán)境中的非密封包裝中。在溫度/濕度/偏壓條件下，可用于加速水分的滲透，通過(guò)外部防護(hù)材料(塑料密封材料或密封件)或在外部防護(hù)材料與金屬導(dǎo)電材料的界面處。
hast試驗(yàn)箱的詳細(xì)規(guī)范:
設(shè)定溫度:+100℃ ~+132℃(飽和蒸汽溫度)
濕度范圍:蒸汽濕度
工作壓力:1.5 kg ~ 3.2 kg/cm2(內(nèi)筒設(shè)計(jì)壓力為4 kg/cm2) (Jué du √壓力)
時(shí)間范圍:000小時(shí)~ 999小時(shí)
加壓時(shí)間:0.00 kg ~ 1.04 kg/cm2，約45分鐘
溫度波動(dòng)均勻性:0.5℃
溫度顯示精度:0.1℃
壓力波動(dòng)均勻性:0.2Kg
Hast試驗(yàn)室控制系統(tǒng)
1.飽和蒸汽的溫度由微型計(jì)算機(jī)(PT-100鉑溫度傳感器)控制。
2.時(shí)間控制器采用LED顯示。
3.用指針顯示壓力表。
4.微電腦P.I.D自動(dòng)計(jì)算和控制飽和蒸汽溫度。
5.手動(dòng)進(jìn)水閥(自動(dòng)加水功能，不停機(jī)連續(xù)測(cè)試)。
Hast試驗(yàn)箱材料:
1.試驗(yàn)箱尺寸:∮ 300mmx500mm，圓形試驗(yàn)箱。
2.整機(jī)外形尺寸:實(shí)用(寬*深*高)立式
3.內(nèi)桶材料:不銹鋼板材(SUS#3163mm)
4.外桶材料:不銹鋼板(SUS#3161mm)
5.保溫材料:巖棉和硬質(zhì)聚氨酯泡沫保溫。
6.蒸汽發(fā)生器室加熱管:管式無(wú)縫鋼管電加熱器，翅片散熱(表面鍍鉑防腐蝕)。
Hast試驗(yàn)箱ān qun保護(hù):
1.進(jìn)口耐高溫密封電磁閥，采用雙回路結(jié)構(gòu)，確保壓力不泄漏。
2.整機(jī)配有過(guò)壓保護(hù)、超溫保護(hù)、一鍵泄壓、手動(dòng)泄壓等多重φNQán保護(hù)裝置，大程度保證用戶使用和φNQán。
3.背壓門鎖裝置，當(dāng)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)有壓力時(shí)，試驗(yàn)箱門不能打開。
Hast試驗(yàn)箱適用于國(guó)防、汽車零部件、電子零件、塑料、磁體工業(yè)、制藥工業(yè)等相關(guān)產(chǎn)品的加速壽命試驗(yàn)。用于產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，快速識(shí)別產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。艾利測(cè)試儀器是專業(yè)模擬測(cè)試設(shè)備的明星企業(yè)，生產(chǎn)歷史悠久，技術(shù)精良。國(guó)內(nèi)很多測(cè)試設(shè)備廠都在用，成立30多年了。深受好評(píng)，多次被評(píng)為“省優(yōu)”產(chǎn)品。
