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Hast高壓加速老化測(cè)試設(shè)備使用優(yōu)勢(shì)
HAST加速老化試驗(yàn)箱廣泛用于測(cè)試多層電路板、IC封裝、液晶屏、led、半導(dǎo)體、磁性材料、釹鐵硼、稀土、磁鐵等材料的密封性能，測(cè)試上述產(chǎn)品的耐壓性和氣密性。
設(shè)備使用優(yōu)勢(shì):
1)采用進(jìn)口耐高溫電磁閥雙回路結(jié)構(gòu)，大程度降故障率。
2)獨(dú)立的蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽對(duì)產(chǎn)品的直接沖擊，從而避免產(chǎn)品的局部損壞。
3)門鎖的省力結(jié)構(gòu)解決了一代產(chǎn)品盤(pán)柄不易上鎖的缺陷。
4)測(cè)試前排冷風(fēng)；中間排氣冷風(fēng)(測(cè)試筒排氣)的設(shè)計(jì)提高了壓力穩(wěn)定性和再現(xiàn)性。
5)超長(zhǎng)期實(shí)驗(yàn)運(yùn)行時(shí)間，長(zhǎng)期實(shí)驗(yàn)機(jī)運(yùn)行400小時(shí)。
6)水位保護(hù)，由實(shí)驗(yàn)室水位傳感器檢測(cè)保護(hù)。
7)罐體耐壓設(shè)計(jì)，罐體(150℃)耐壓2.65kg，滿足6kg水壓試驗(yàn)。
8)兩級(jí)壓力安全保護(hù)裝置，采用兩級(jí)組合控制器和機(jī)械壓力保護(hù)裝置。
9)安全保護(hù)泄壓按鈕，緊急安全裝置的兩級(jí)自動(dòng)泄壓按鈕。
10)偏置測(cè)試端子的耐壓可達(dá)3000V(可選)
11) USB導(dǎo)出歷史數(shù)據(jù)和曲線。
Hast高壓加速老化試驗(yàn)室
主要技術(shù)參數(shù):
類型:HAST-ZT-300、HAST-ZT-450、HAST-ZT-600
內(nèi)部尺寸(寬×高×深)毫米:300×450、450×500、600×650
外箱尺寸(寬×高×深)毫米:580×1150×650、800×1250×900、950130×1100
工作溫度:110℃,121℃;127℃,132℃;(特別選擇143℃)
使用濕度:5%-% RH不飽和蒸汽濕度
使用蒸汽壓力(壓力):1環(huán)境大氣壓+0.0kg/cm2-2.0kg/cm2；(3.0Kg/cm2為特殊規(guī)格)
循環(huán)模式:水蒸氣的自然對(duì)流循環(huán)
安全保護(hù)裝置:
缺水保護(hù)、超壓保護(hù)，(具有自動(dòng)/手動(dòng)供水功能和自動(dòng)泄壓功能)
配件:兩層不銹鋼隔板
電源:交流220伏，50赫茲/交流380伏，50赫茲
