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PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)要點(diǎn)
PCT高壓加速老化試驗(yàn)箱適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥線路板，多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測，相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗(yàn)。
技術(shù)要點(diǎn)是:
密封作用、安全性能和操作方式。1.密封作用:背壓式PCT高壓老化試驗(yàn)箱依靠箱內(nèi)壓力關(guān)閉通向內(nèi)箱的門，達(dá)到良好的密封作用。當(dāng)箱內(nèi)壓力為0.1MPa時(shí)，內(nèi)箱會(huì)以0.1MPa的力關(guān)門，剛好達(dá)到很好的密封作用，不需要額外的壓力就可以輕松完成；當(dāng)箱內(nèi)壓力為0.2MPa時(shí)，內(nèi)箱會(huì)以0.2MPa的吸力關(guān)門，整個(gè)密封過程基本靠設(shè)備自身實(shí)現(xiàn)。
3.安全性能:在測試過程中，隨著箱內(nèi)壓力的增加，反壓門扣會(huì)自動(dòng)鎖死，箱門無法打開，可以更有效的防止操作者無意中打開箱門。當(dāng)箱內(nèi)壓力排出后，反壓門扣會(huì)自動(dòng)解鎖，真正起到了門禁的作用。
操作方式:平面反壓門設(shè)計(jì)，用戶關(guān)門時(shí)只需逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)把手180度，其余由設(shè)備自動(dòng)完成。安全、方便、快捷、有效。
瑞PCT測試儀主要用于測試半導(dǎo)體封裝的吸濕容量。當(dāng)被測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時(shí)，水分會(huì)沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的故障模式是有源金屬化區(qū)域腐蝕導(dǎo)致的開路或污染導(dǎo)致的封裝引腳之間的短路。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材料、釹鐵硼、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能，測試其產(chǎn)品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗(yàn)的目的是增加環(huán)境應(yīng)力(如溫度)和工作應(yīng)力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負(fù)載)，加快試驗(yàn)過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
規(guī)格:
1.內(nèi)箱尺寸:φ300×D450(mm)
2.外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
3.內(nèi)箱材料:SUS 304#不銹鋼板。
4.外箱材料:烤漆或不銹鋼。
5.溫度范圍:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
6.濕度范圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
7.壓力范圍:0.2kg/cm2 ~ 2.4kg/cm2控制點(diǎn)壓力。
8.時(shí)間范圍:0 ~ 999小時(shí)可調(diào)。
9.溫度分布:(+/-)2.0℃。
10.加熱時(shí)間:RT ~ 132℃約45分鐘(控制點(diǎn)溫度)。
1.加壓時(shí)間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，約40分鐘(控制點(diǎn)壓力)。
12.控制對象:微機(jī)+P.I.D.+S.S.R自動(dòng)計(jì)算控制飽和蒸汽溫度。
13.控制方式:微電腦PID控制。
14.控制精度:(+/-)0.5℃。15.分析精度:0.1℃。
