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PCT測試儀器常見的故障模式是什么？

PCT測試儀主要用于測試半導體封裝的吸濕能力。當被測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿膠體或膠體與引線框架的界面滲入封裝。常見的故障模式是有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路或污染導致的封裝引腳之間的短路。廣泛用于測試印刷電路板、多層印刷電路板、IC、LCD、稀土材料、釹鐵硼、磁鐵等產(chǎn)品的密封性能，測試其產(chǎn)品的耐壓性和氣密性。加速壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(如施加在產(chǎn)品上的電壓和負載)，加快試驗過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。
內(nèi)部尺寸:φ300×D450(mm)
外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
內(nèi)盒材料:SUS 304#不銹鋼板。
材料:烤漆或不銹鋼。
溫度范圍:100℃ ~ 132℃(飽和蒸汽溫度)。
濕度范圍:**RH。(飽和蒸汽濕度)。
壓力范圍:0.2 kg/cm2 ~ 2.4 kg/cm2控制點壓力。
時間范圍:0 ~ 999小時可調(diào)。
溫度分布:(+/-)2.0℃。
加熱時間:RT ~ 132℃約45分鐘(控制點溫度)。
加壓時間:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，約40分鐘(控制點壓力)。

控制對象:微機+P.I.D.+S.S.R自動計算控制飽和蒸汽溫度。
控制方式:微電腦PID控制。
技術要點包括:密封作用、安全性能、操作方式。密封作用:愛思力公司設計的背壓式PCT高壓老化試驗箱，依靠箱內(nèi)的壓力來緊密關閉通向內(nèi)箱的門，達到良好的密封作用。當箱內(nèi)壓力為0.1MPa時，內(nèi)箱會剛好以0.1MPa的力關門，達到良好的密封作用，無需額外壓力即可輕松完成；當箱內(nèi)壓力為0.2MPa時，內(nèi)箱會以0.2MPa的吸力關門，整個密封過程基本靠設備自身實現(xiàn)。
安全性能:在測試過程中，隨著箱內(nèi)壓力的增加，反壓門扣會自動鎖死，箱門無法打開，可以更有效地防止操作人員無意打開的危險。當箱內(nèi)壓力排出后，反壓門扣會自動解鎖，真正起到了門禁的作用。
操作方式:平面反壓門設計，用戶關門時只需逆時針旋轉(zhuǎn)把手180度，其余由設備自動完成。安全、方便、快捷、有效！
控制精度:(+/-)0.5℃。分析精度:0.1℃。

產(chǎn)品特點:
1.具有自動加水功能，測試時水位過低可自動補水；
2.LED數(shù)字溫度控制器可設定、控制和顯示準確的測試溫度；
3.LED數(shù)字定時器，當鍋內(nèi)溫度達到時開始計時，確保測試完成；
4.準確的壓力/溫度計可以隨時顯示鍋內(nèi)的壓力和相對溫度；
5.運行時，流水裝置自動排出不飽和蒸汽，達到蒸汽品質(zhì)；
6.一體式硅膠門墊，氣體密度好，使用壽命長；
7.試驗箱經(jīng)拋光處理后耐用、美觀、無污染；
8.鍋內(nèi)安全裝置:鍋門未關好，機器無法啟動；
9.安全閥:當鍋內(nèi)壓力超過工作值時，自動排氣泄壓；
10、雙重過熱保護裝置，當鍋內(nèi)溫度過高時，機器嘟嘟報警并自切斷加熱電源；
11.門蓋保護:ABS材料可防止操作者被接觸燙。

PCT測試儀器常見的故障模式是什么？

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