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電子元器件的低壓測(cè)試條件有哪些?-艾斯瑞
電子元器件的低壓測(cè)試條件有哪些?
1)測(cè)試空氣壓力
GJb 548列出了A、B、C、D、E、F、G7不同工況下的高空氣壓值,給定的試驗(yàn)工況具有一定的規(guī)律性。隨著飛行高度由低到高,氣壓值由大變小。GJb 360給出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、10種不同條件下的高度氣壓值,所列的高度-氣壓表中的試驗(yàn)條件從A到E有一定的規(guī)律性,隨著飛行高度從低到高,氣壓值由大到小變化,但從試驗(yàn)條件F到試驗(yàn)條件j沒(méi)有規(guī)律性,與GJb 548所列的試驗(yàn)條件相比, GJb 360的試驗(yàn)條件在試驗(yàn)條件J上增加了條件H,對(duì)應(yīng)的氣壓高度條件為:H:3000m 70 kPa; j:18000米,7、6千帕;克:25000米,2、5千帕。
2)測(cè)試時(shí)間
GJb 360B-2009規(guī)定:
除非另有規(guī)定,測(cè)試樣品在低氣壓下的測(cè)試時(shí)間可從以下值中選擇:
5min、30min、1h、2h、4h和16h。

3)壓力增減率
一般不超過(guò)10kPa/min。
測(cè)試設(shè)備
低壓試驗(yàn)的主要設(shè)備是高低溫低壓試驗(yàn)箱。儲(chǔ)運(yùn)可靠性試驗(yàn)可在高溫、低氣壓的單一或同時(shí)作用下進(jìn)行,試件可同時(shí)通電測(cè)試電氣性能參數(shù)。
低壓試驗(yàn)箱
溫度范圍:-40~150℃
環(huán)境溫度:+5 ~+30℃
內(nèi)箱尺寸:1000 * 1000 * 1000毫米
廠家設(shè)備優(yōu)勢(shì)
1.獨(dú)特的平衡溫度調(diào)節(jié)方法,使設(shè)備具有高精度、高穩(wěn)定性的溫度控制;
2.低壓試驗(yàn)箱設(shè)有氮?dú)膺M(jìn)氣孔,便于樣品的非氧化測(cè)試;
3.調(diào)節(jié)器采用高精度、高穩(wěn)定性的PID自整定和液晶顯示,保證設(shè)備的穩(wěn)定控制;
4.具有超溫保護(hù)、語(yǔ)音提示、定時(shí)功能。當(dāng)計(jì)時(shí)結(jié)束或報(bào)警結(jié)束時(shí),電源會(huì)自動(dòng)切斷,停止設(shè)備運(yùn)行,保證設(shè)備和人員的安全。

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