產(chǎn)品的低氣壓可靠性測試重要，因為不僅影響生產(chǎn)公司的未來，也影響用戶的安全。可靠性好的產(chǎn)品不僅可以降公司的維護成本，還可以快速發(fā)揮 作用，大大升公司形象，增加公司收入。
鹽是常見的化合物之一。鹽可以在海洋、大氣、地表、湖泊和河流中找到。因此，避免暴露在鹽霧中是較困難的。鹽霧環(huán)境對電氣電子產(chǎn)品的影響僅次于溫度、振動、濕熱和粉塵。
鹽霧試驗是一種環(huán)境試驗，主要利用鹽霧試驗設(shè)備創(chuàng)造的人工模擬鹽霧環(huán)境條件來評估產(chǎn)品或金屬材料的耐腐蝕性。測試鹽霧腐蝕后樣品性能的變化以及鍍層或鐵殼金屬零件對鹽霧的耐蝕性。
提供中性鹽霧試驗和酸性鹽霧試驗。
20世紀70年代，我國開始在電子工業(yè)和航空工業(yè)中初步形成可靠性研究體系，并應(yīng)用于 產(chǎn)品。其他行業(yè)的可靠性工作起步較晚，差距較大，落后 國20 ~ 30年。
產(chǎn)品在運輸和使用過程中，可能會面臨外部溫度的突然變化、溫濕度的周期性變化、空氣中高鹽霧的侵蝕、外部環(huán)境引起的振動、沖擊和跌落等。因此，在產(chǎn)品設(shè)計中應(yīng)考慮上述因素。
低氣壓 Testing常用于驗證部件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在常溫低壓環(huán)境、低溫低壓復合環(huán)境、高溫低壓復合環(huán)境和高溫低壓復合環(huán)境下的儲存、運輸和使用能力。測試的嚴格程度取決于溫度、氣壓和暴露時間。
高空試驗機(低氣壓試驗機)，溫度范圍為-70℃ ~+150℃，壓力范圍為101.3kPa~0.5kPa，可用于檢測低氣壓狀態(tài)下電子產(chǎn)品及元器件的穩(wěn)定性。
參考標準:
IEC 60068-2-40:1983　基本環(huán)境試驗程序第2部分:試驗Z/AM:冷/低氣壓組合試驗
2423.25IEC-2008年　電子電氣產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法試驗Z/AM:低溫/低氣壓綜合試驗
IEC 60068-2-41:1983　測試Z/BM:組合干熱/低氣壓測試
2423.26IEC-2008年　測試Z/BM:高溫/低氣壓綜合測試
國際電工委員會60068-2-13:1983　測試M:低氣壓
GB2423.21-2008測試M: 低氣壓