PCT飽和蒸汽試驗箱適用于國防、航空航天、汽車零部件、電子零配件、塑料、磁體工業(yè)、制藥、電路板、多層電路板、ic、LCD、磁體、照明、照明產(chǎn)品等產(chǎn)品的密封性能測試。，并對相關產(chǎn)品進行加速壽命測試，用于產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其產(chǎn)品的耐厭氧性和氣密性。測試半導體封裝的防潮能力。待測產(chǎn)品在惡劣的溫度、濕度和壓力下測試時，水分會沿著膠體或膠體與引線框的界面滲入封裝內(nèi)。常見的故障模式是有源金屬化區(qū)域腐蝕導致的開路，或封裝引腳之間污染導致的短路。加速老化壽命試驗的目的是增加環(huán)境應力(如溫度)和工作應力(施加在產(chǎn)品上的電壓和負載等)。)，加快測試過程，縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命測試時間。
PCT測試箱使用:該設備主要用于航空、航天、電子、國防、科研等工業(yè)部門在溫度、濕度、低壓等單一或復雜環(huán)境條件下確定的電氣電子產(chǎn)品(包括元器件、材料、儀表)的儲運等可靠性試驗。
 PCT飽和蒸汽壓力試驗箱使用范圍
PCT試驗箱主要參數(shù):
內(nèi)部尺寸:60 * 80 * 85厘米。
溫度范圍:LPT:-70~+160℃LPTH:(環(huán)境溫度+20)℃~+160℃。
濕度范圍:10 ~ 98%相對濕度
壓力范圍:正常壓力:0.5千帕
溫度波動:≤ 0.5℃(常壓下)。
溫度均勻性:≤ 2℃(常壓下)。
濕度波動:≤ 2% r.h(正常壓力下)。
濕度均勻性:≤ 3%相對濕度(相對濕度> 75%相對濕度時)；≤ 5%相對濕度(相對濕度≤75%相對濕度時)。
壓力偏差:≤ 2kpa (≥ 40kpa)、≤ 5%(在2 ~ 40kpa時)、≤ 0.1kpa(在≤ 2kpa時)。
加熱時間為25℃(常溫)→+160℃≤60分鐘(常壓)。
冷卻時間:(限LPT型)+25→-65℃(常壓下)。
PCT試驗箱性能參數(shù)測試:
1.在開發(fā)階段，用于暴露試制產(chǎn)品各方面的缺陷，評估產(chǎn)品達到預定目標的可靠性；
2.生產(chǎn)階段為監(jiān)控生產(chǎn)過程提供信息；
3.對終產(chǎn)品進行可靠性評估或驗收；
4.揭示和分析產(chǎn)品在不同環(huán)境和應力條件下的失效規(guī)律及相關失效模式和失效機理；
5.提高產(chǎn)品可靠性，制定和完善可靠性試驗方案，為用戶選擇產(chǎn)品提供依據(jù)。