可靠性試驗的目的是確定通過可靠性鑒定試驗并轉(zhuǎn)入批量生產(chǎn)的產(chǎn)品在規(guī)定的條件下是否滿足規(guī)定的可靠性要求，并驗證產(chǎn)品的可靠性是否隨著批量生產(chǎn)過程中工藝、工裝、工作流程、零件質(zhì)量等因素的變化而降。只有通過這些，產(chǎn)品性能才可信，產(chǎn)品質(zhì)量才過硬。
電子產(chǎn)品可靠性需要測試哪些項目:114測試中心有低溫測試、高溫測試、濕熱測試、霉菌測試、鹽霧測試、低壓測試、振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試等。
1.低溫試驗
根據(jù)GB/T2423.1—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:低溫試驗的試驗方法》；
GB/t 2423.22-87電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗方法
進行低溫試驗和溫度變化試驗。
溫度范圍:-70℃ ~ 10℃。
2.高溫試驗
根據(jù)GB/T2423.2—89《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:高溫試驗的試驗方法》；
GB/t 2423.22-87電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法溫度變化試驗方法
進行高溫試驗和溫度變化試驗。
溫度范圍:10℃ ~ 210℃。
3.濕熱試驗
根據(jù)GB/T2423.3—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法恒濕熱試驗》；
GB/T2423.4—93電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:交變濕熱試驗方法
進行恒定濕熱試驗和交替濕熱試驗。
濕度范圍:30% RH ~ % RH。
4.霉菌試驗
根據(jù)GB/T2423.16—90《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗—第2部分:試驗方法—霉菌試驗》，進行霉菌試驗。
5.鹽霧試驗
鹽霧試驗應(yīng)按照GB/T2423.17—93《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:鹽霧試驗方法》進行。

6.低壓試驗
根據(jù)GB/T2423.21—92《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第二部分:試驗方法:低壓試驗》；
GB/T2423.25—92電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法低溫/低壓試驗；
GB/T2423.26—92電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:高溫/低壓試驗方法；
進行低壓試驗、高低溫/低壓試驗。范圍:70℃ ~ 100℃，0 ~ 760 mmHg，20% ~ 95% RH。
7.振動試驗
根據(jù)GB/t 2423.10-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗-第2部分:試驗方法-振動試驗》。
頻率范圍(機械振動臺):5 ~ 60 Hz(定頻振動5 ~ 80 Hz)，大位移幅度3.5mm(滿載)。頻率范圍(電磁振動臺):5 ~ 3000 Hz，大位移25 MMP-P。
8.沖擊試驗
沖擊試驗應(yīng)按照GB/T2423.5—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法沖擊試驗》進行。沖擊加速度范圍:(50 ~ 1500) m/s2。
9.碰撞試驗
根據(jù)GB/T2423.6—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗—第2部分:試驗方法—碰撞試驗》。
10.落錘試驗
根據(jù)GB/T2423.7—95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法——傾倒和傾覆試驗》；
GB/T2423.8—95電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分:試驗方法自由落體試驗。
上述提到的電子產(chǎn)品低溫測試、高溫測試、濕熱測試、鹽霧測試、振動測試、沖擊測試、碰撞測試、跌落測試等一系列可靠性試驗，艾斯瑞儀器均有生產(chǎn)，若有意向，歡迎搜索“艾斯瑞儀器”，期待與您合作共贏。